The high-energy X-ray photoelectron spectroscopy was used to determine the composition and chemical structure of epitaxial LaNiO$\text{}_{3-x}$ films obtained by a reactive dc magnetron sputtering. It was found that the oxide and hydroxide species of La and Ni are on the films surface. The thickness of hydroxide enriched layer, estimated from the oxide and hydroxide peak intensities, is about 2 nm.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00