Fabrication and Electrical Characterization of PbS-EuS Ferromagnetic Semiconductor Microstructures

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Fabrication and Electrical Characterization of PbS-EuS Ferromagnetic Semiconductor Microstructures
Autorzy:: Wrotek, S.
Morawski, A.
Tkaczyk, Z.
Mąkosa, A.
Wosiński, T.
Dybko, K.
Łusakowska, E.
Story, T.
Sipatov, A. Yu.
Pécz, B.
Grasza, K.
Szczerbakow, A.
Wróbel, J.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/2038135.pdf
Data publikacji:: 2004-06
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 73.61.Le
75.30.Et
75.70.Cn
Źródło:: Acta Physica Polonica A; 2004, 105, 6; 615-620
0587-4246
1898-794X
Język:: angielski
Prawa:: Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki
: Artykuł

Przejdź do źródła

Current-voltage characteristics and temperature dependence of differential conductance were studied in lithographically patterned (lateral dimensions from 10 x 10 μm$\text{}^{2}$ to 100 x 100 μm$\text{}^{2}$) ferromagnetic EuS-PbS-EuS microstructures. Below the ferromagnetic transition temperature a 4% decrease in the structure conductance was observed for mutual antiferromagnetic orientation of magnetization vectors of ferromagnetic EuS layers.

Informacja

Powiązane pozycje