Heavy-ion bombardment of thin ferromagnetic, polycrystalline films can induce substantial changes of their magnetic and microstructural properties. Since we first identified this effect in 50-150 nm thick Fe and Ni films irradiated with Xe-ions, we made a systematic search for the influence of various film and implantation parameters on the orientation and degree of the magnetic anisotropy and how these parameters correlate with the microstructure of the films. Several analyzing methods, such as Rutherford backscattering, magneto-optical Kerr effect, X-ray diffraction, magnetic force microscopy, $\text{}^{111}$In perturbed angular correlation, and conversion electron Mössbauer spectroscopy, were employed in the investigation.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00