The Improvement of Atomic Force Microscope Suitable for Magnetic Domain Structure Measurements

Szczegóły
Opis

Tytuł:: The Improvement of Atomic Force Microscope Suitable for Magnetic Domain Structure Measurements
Autorzy:: Sveklo, I.
Dobrogowski, W.
Kisielewski, M.
Maziewski, A.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/2013164.pdf
Data publikacji:: 2000-03
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 75.70.-i
75.30.Pd
61.16.Ch
Źródło:: Acta Physica Polonica A; 2000, 97, 3; 527-530
0587-4246
1898-794X
Język:: angielski
Prawa:: Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki
: Artykuł

Przejdź do źródła

Based on commercial Burleigh METRIS$\text{}^{TM}$-2000 Atomic Force Microscope two methods of magnetic force measurements were realised. The developed system was successfully applied for study of magnetic structure of both YIG-garnet and CoNi/Pt magneto-optic multilayers.

Informacja

Powiązane pozycje