Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Analysis of Residual Stress States Using Diffraction Methods

Tytuł:
Analysis of Residual Stress States Using Diffraction Methods
Autorzy:
Reimers, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2011020.pdf
Data publikacji:
1999-08
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
81.70.-q
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1999, 96, 2; 229-238
0587-4246
1898-794X
Język:
angielski
Prawa:
Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
The possibilities and limitations of residual stress analysis using diffraction methods are discussed. Examples for the analysis of stress gradients in the near surface zone are given. The use of neutron diffraction and of high energy synchrotron radiation for the analysis of bulk stresses is demonstrated. Future trends of experimental residual stress analysis are outlined.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies