Electrical Characterization of Semiconducting Polymers

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Electrical Characterization of Semiconducting Polymers
Autorzy:: Stallinga, P.
Gomes, H. L.
Jones, G. W.
Taylor, D. M.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/1992199.pdf
Data publikacji:: 1998-09
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 73.61.Ph
73.40.-c
Źródło:: Acta Physica Polonica A; 1998, 94, 3; 545-548
0587-4246
1898-794X
Język:: angielski
Prawa:: Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki
: Artykuł

Przejdź do źródła

Schottky diodes resulting from an intimate contact of aluminum on electrodeposited poly(3-methylthiopene) were studied by admittance spectroscopy, capacitance-voltage measurements and voltaic and optically-induced current and capacitance transients. The loss tangents show the existence of interface states that can be removed by vacuum annealing. Furthermore, the C-V curves contradict the idea of movement of the dopant ions.

Informacja

Powiązane pozycje