Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

CdSe Layers of Below Critical Thickness in ZnSe Matrix: Intrinsic Morphology and Defect Formation

Tytuł:
CdSe Layers of Below Critical Thickness in ZnSe Matrix: Intrinsic Morphology and Defect Formation
Autorzy:
Sedova, I.
Shubina, T.
Sorokin, S.
Sitnikova, A.
Toropov, A.
Ivanov, S.
Willander, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1992185.pdf
Data publikacji:
1998-09
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.45.+h
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1998, 94, 3; 519-525
0587-4246
1898-794X
Język:
angielski
Prawa:
Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
Three main stages of the intrinsic morphology transformation of MBE grown CdSe fractional monolayers in ZnSe with increase in their nominal thickness w in the 0.1-3.0 monolayer range were found using both structural and optical characterization techniques. Emergence of the extended (15-30 nm) CdSe-enriched quantum-dot-like pseudomorphic islands at w>0.7 monolayer with the density increasing up to 2.5×10$\text{}^{10}$ cm$\text{}^{-2}$ at w=2.8 monolayer is clearly displayed in the optical properties of CdSe fractional monolayer nanostructures. The below critical thickness CdSe fractional monolayers having extremely high quantum efficiency can be very perspective as an active region of ZnSe-based blue-green lasers.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies