Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Local Adhesive Surface Properties Studied by Force Microscopy

Tytuł:
Local Adhesive Surface Properties Studied by Force Microscopy
Autorzy:
Lekka, M.
Lekki, J.
Marszałek, M.
Stachura, Z.
Cleff, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1968773.pdf
Data publikacji:
1998-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
68.35.Gy
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1998, 93, 2; 421-424
0587-4246
1898-794X
Język:
angielski
Prawa:
Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
Scanning force microscopy was used in the contact mode to determine the adhesion force between a mica surface and a silicon nitride tip. The measurements were performed in an aqueous solution of sodium and calcium chlorides. The adhesion force according to the Derjaguin-Landau-Verwey- Overbeek theory depends on the competition between two kinds of forces: van der Waals and electrostatic "double layer". Two different curves of adhesion force versus salt concentration were obtained from the experiment with monovalent and divalent ions. The tip-surface adhesion force was determined from a statistical analysis of data obtained from the force vs. distance retracting curves.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies