Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

H-T Phase Diagram of Magnetic Semiconductor Thin Films - Experiment

Tytuł:
H-T Phase Diagram of Magnetic Semiconductor Thin Films - Experiment
Autorzy:
Lubecka, M.
Maksymowicz, L. J.
Szymczak, R.
Powroźnik, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1964793.pdf
Data publikacji:
1997-08
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
75.30.Gw
75.50.Lk
64.60.Cn
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1997, 92, 2; 433-436
0587-4246
1898-794X
Język:
angielski
Prawa:
Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
We used the irreversibilities between the field cooled and zero field cooled dc magnetization to determine the field and composition dependence of the spin-glass freezing temperature in CdCr$\text{}_{2}$Se$\text{}_{4}$ : In (REE) and CdCr$\text{}_{2-2x}$In$\text{}_{2x}$Se$\text{}_{4}$ (0.15 ≤ x ≤ 0.35) (SG) thin films. The H-T phase diagram of samples with REE has two instability lines: the Gabay-Toulouse-type (G-T) and the De Almeida-Thouless-type (A-T) while samples in SG state are characterized by the A-T line. The A-T line of thin films was used for calculation the normalised internal magnetic field h$\text{}_{m}$ of infinite spin clusters with long range ordering.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies