Thin films of TiO$\text{}_{2}$-SnO$\text{}_{2}$ and SrTiO$\text{}_{3}$-BaTiO$\text{}_{3}$ are deposited by rf sputtering. The crystallographic and optical properties near the band gap absorption are investigated as a function of film composition. Systematic displacement of the fundamental absorption edge shows different behaviour for amorphous and polycrystalline samples. Results are discussed in terms of the influence of the substitution on the local environment of Ti ion and Me-O distances. Application of XANES and EXAFS is proposed for the studies of solid-state solutions.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00