We are growing ZnSe, ZnS and CdSe layers epitaxially on GaAs(001) substrates by atomic layer epitaxy and molecular beam epitaxy. The substrates are prepared by a H-plasma method in order to obtain a sharp interface between substrate and layer. The quality of our samples is controlled by reflection high energy diffraction and X-ray diffraction. Furthermore, the samples are characterized in situ by photoelectron spectroscopy. We observe resonant Zn 3d$\text{}^{8}$ and Cd 4d$\text{}^{8}$ satellites, which are used to check the layer quality. As a result, the valence band offsets of CdSe/ZnSe and ZnSe/CdSe were obtained. The values are ΔE$\text{}_{v}$(ZnSe/CdSe) = -(0.13 ± 0.07) eV and ΔE$\text{}_{v}$(CdSe/ZnSe) = -(0.13 ± 0.07) eV, which confirm the commutativity rule.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00