We review the methods of fabrication and transport properties of submicron II-VI, IV-VI and III-V semiconductor wires. Devices were prepared by electron-beam lithography and used for detailed magnetotransport studies, carried out at low (down to 30 mK) temperatures. We discuss a number of novel features obtained in ballistic, diffusive and localized transport regimes. In particular, we describe the universal conductance fluctuations for semimagnetic materials (CdMnTe) and discuss the edge channel transport for PbTe, PbSe and GaAs/GaAlAs systems.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00