Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Influence of Dislocation Interactions with Impurities on their Topographical Images in Silicon Crystals

Tytuł:
Influence of Dislocation Interactions with Impurities on their Topographical Images in Silicon Crystals
Autorzy:
Auleytner, J.
Skorokhod, M. Ya.
Datsenko, L. I.
Khrupa, V. I.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1945730.pdf
Data publikacji:
1996-09
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
61.10.-i
61.72.Cc
61.72.Ff
81.40.Cd
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 1996, 90, 3; 541-546
0587-4246
1898-794X
Język:
angielski
Prawa:
Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
Silicon crystals contained copper atoms included by diffusion way during high temperature treatment have been investigated by means of X-ray transmission topography (Lang method). The studies allow us to observe the increase or decrease in the dislocation images widths in dependence on the time of diffusin annealing. In one case, during the more prolonged decoration process a build-up of decorating particles on dislocation occurs with widening of the topographic images of this dislocation. In another case (short time of decorating process) some compensation of defect deformation fields has been noticed (shortening of the mentioned images takes part). The obtained effects depend not only on the type of intrinsic impurities which take part in forming the Cottrell atmospheres but also on the duration of diffusion annealing. The observed results of interaction of dislocations with impurities have been confirmed by the studies of the integral reflectivity of decorated samples by means of the double-crystal spectrometer.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies