Optical Characterization of MBE-Grown Cd$\text{}_{1-x}$Mn$\text{}_{x}$Te Layers by Raman Spectroscopy

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Optical Characterization of MBE-Grown Cd$\text{}_{1-x}$Mn$\text{}_{x}$Te Layers by Raman Spectroscopy
Autorzy:: Szuszkiewicz, W.
Dynowska, E.
Janik, E.
Karczewski, G.
Wojtowicz, T.
Kossut, J.
Jouanne, M.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/1945228.pdf
Data publikacji:: 1996-03
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 63.20.-e
75.50.Pp
78.30.-j
Źródło:: Acta Physica Polonica A; 1996, 89, 3; 335-340
0587-4246
1898-794X
Język:: angielski
Prawa:: Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki
: Artykuł

Przejdź do źródła

In this paper we discuss a possibility of an optical characterization of thin semiconductor epilayers by Raman scattering measurements. As an example zinc blende Cd$\text{}_{1-x}$Mn$\text{}_{x}$Te epilayers (0.66 ≤ x ≤ 1.0) have been grown by molecular beam epitaxy method and investigated by Raman scattering and X-ray diffraction. Information resulting from both methods is compared and discussed.

Informacja

Powiązane pozycje