Defect Profile Induced by Friction and Wear Processes Detected by Positron Annihilation Method

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Defect Profile Induced by Friction and Wear Processes Detected by Positron Annihilation Method
Autorzy:: Dryzek, J.
Dryzek, E.
Cleff, B.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/1933487.pdf
Data publikacji:: 1995-07
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 78.70.Bj
Źródło:: Acta Physica Polonica A; 1995, 88, 1; 129-133
0587-4246
1898-794X
Język:: angielski
Prawa:: Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki
: Artykuł

Przejdź do źródła

The positron annihilation studies of defect profile in Cu samples whose surfaces were exposed to the friction and wear processes are presented. The values of the S-parameter and its dependences on the depth from the Cu surface are the functions of the value of the load applied in the sliding contact between two metals. It indicates possibilities of applying the presented measurement method in the industry.

Informacja

Powiązane pozycje