Resistivity and Temperature Coefficient of Resistivity of the Fe/Zr Multilayer Films

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Resistivity and Temperature Coefficient of Resistivity of the Fe/Zr Multilayer Films
Autorzy:: Luciński, T.
Stobiecki, F.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/1930608.pdf
Data publikacji:: 1994-02
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 75.50.-y
Źródło:: Acta Physica Polonica A; 1994, 85, 2; 443-447
0587-4246
1898-794X
Język:: angielski
Prawa:: Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki
: Artykuł

Przejdź do źródła

The resistivity (ρ) and temperature coefficient of resistivity (TCR) dependencies on modulation wavelength (λ) were examined in Fe/Zr multi-layer thin films. It was shown that the ρ(λ) and TCR(λ) behaviours can be explained on the basis of the assumption that the amorphous phase can be spontaneously formed during the deposition process. We found that the effective thickness of the amorphous phase was ≈2 nm per single interface.

Informacja

Powiązane pozycje