Experimental results are presented confirming that the two energy levels in GaAs: E$\text{}_{c}$ - 0.68 eV and E$\text{}_{v}$ + 0.37 eV, discovered in plastically deformed crystals, belong actually to dislocations. In view of recent identification of the electron state of misfit dislocations at an InGaAs/GaAs interface, a correspondence between these levels and dislocation types has been reinterpreted. The first mentioned leve1 belongs likely to α while the second one to β dislocations of 60° (glide set) type. Such a correspondence is compatible with the observed effect of irradiation on dislocation glide motion in GaAs. It is also argued that these energy levels are involved in the phenomenon of unquenchability of the EL2 defects placed in high-stress regions near dislocations.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00