Tytuł pozycji:
Synchrotron Radiation Induced X-Ray Emission - SRIXE
- Tytuł:
-
Synchrotron Radiation Induced X-Ray Emission - SRIXE
- Autorzy:
-
Kwiatek, W.
- Powiązania:
-
https://bibliotekanauki.pl/articles/1920883.pdf
- Data publikacji:
-
1992-08
- Wydawca:
-
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Tematy:
-
78.70.En
87.15.Mi
- Źródło:
-
Acta Physica Polonica A; 1992, 82, 2; 263-271
0587-4246
1898-794X
- Język:
-
angielski
- Prawa:
-
Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
- Dostawca treści:
-
Biblioteka Nauki
-
Przejdź do źródła Link otwiera się w nowym oknie
The synchrotron radiation induced X-ray emission (SRIXE) technique was found very useful and sensitive for determination of trace elements content and distribution in different types of materials. Due to properties of synchrotron radiation the SRIXE technique became very unique and powerful for trace elements analysis. This paper describes the phenomena related to production of characteristic X-rays and principles of the method. The properties of SRIXE such as minimum detectable limit, spatial resolution, radiation damage, and depth sensitivity are also discussed. Selected applications are given to emphasize the usefulness of the technique.
