Tytuł pozycji:
Electron Emission from Extended Defects in DLTS Experiment
- Tytuł:
-
Electron Emission from Extended Defects in DLTS Experiment
- Autorzy:
-
Figielski, T.
- Powiązania:
-
https://bibliotekanauki.pl/articles/1879484.pdf
- Data publikacji:
-
1991-01
- Wydawca:
-
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Tematy:
-
71.55.-i
- Źródło:
-
Acta Physica Polonica A; 1991, 79, 1; 137-140
0587-4246
1898-794X
- Język:
-
angielski
- Prawa:
-
Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
- Dostawca treści:
-
Biblioteka Nauki
-
Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
Dislocations parallel to a Schottky junction are considered as an example of well defined extended defects, and their behaviour in DLTS experiment is examined. A possibility of electron hopping between different traps of the defect, and inter-electronic Coulomb interaction are taken into account. Thermal electron emission from the considered defects is no longer exponential with time and consequences of this fact are discussed.