Electron Emission from Extended Defects in DLTS Experiment

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Electron Emission from Extended Defects in DLTS Experiment
Autorzy:: Figielski, T.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/1879484.pdf
Data publikacji:: 1991-01
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 71.55.-i
Źródło:: Acta Physica Polonica A; 1991, 79, 1; 137-140
0587-4246
1898-794X
Język:: angielski
Prawa:: Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki
: Artykuł

Przejdź do źródła

Dislocations parallel to a Schottky junction are considered as an example of well defined extended defects, and their behaviour in DLTS experiment is examined. A possibility of electron hopping between different traps of the defect, and inter-electronic Coulomb interaction are taken into account. Thermal electron emission from the considered defects is no longer exponential with time and consequences of this fact are discussed.

Informacja

Powiązane pozycje