Modeling of THz-Electro-Optical Sampling Measurements

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Modeling of THz-Electro-Optical Sampling Measurements
Autorzy:: Shiktorov, P.
Starikov, E.
Gružinskis, V.
Varani, L.
Reggiani, L.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/1813215.pdf
Data publikacji:: 2008-03
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 72.20.Ht
72.30.+q
Źródło:: Acta Physica Polonica A; 2008, 113, 3; 913-916
0587-4246
1898-794X
Język:: angielski
Prawa:: Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki
: Artykuł

Przejdź do źródła

We carry out a theoretical analysis of THz-electro-optical sampling experimental technique applied to semiconductor structures. The difficulties/impossibility of determining the small-signal conductivity spectrum in the framework of such a technique are analyzed and discussed.

Informacja

Powiązane pozycje