Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Resonant Photoemission Study οf 4f Electrons on the Surface οf Semiconductors

Tytuł:
Resonant Photoemission Study οf 4f Electrons on the Surface οf Semiconductors
Autorzy:
Orłowski, B.
Kowalski, B.
Pietrzyk, M.
Buczko, R.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1811504.pdf
Data publikacji:
2008-12
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
79.60.Bm
71.20.Mq
07.85.-m
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 114, S; S-103-S-114
0587-4246
1898-794X
Język:
angielski
Prawa:
Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
The contribution of 4f electrons to the electronic structure of the semiconductor clean surface caused by the surface doping of it by rare-earth metal atoms (Eu, Sm) will be presented. The surface doping was performed by the controlled, sequential deposition of the rare-earth metal atoms on the clean surface in UHV conditions (Sm on GaN or CdTe) or by the doping of the layer volume of (EuGd)Te. After each deposition or surface treatment the synchrotron radiation was used to measure in situ the resonant photoemission spectra (the Fano type resonance) to study the contribution of 4f electrons of divalent and trivalent Sm and Eu ions to the valence band electronic structure of created sample. The first stages of the metal atoms deposition lead to the surface doping. Further metal atoms deposition leads to the growth of the metallic islands on the surface and causes the appearance of the sharp metallic Fermi edge in the energy distribution curves. Proper coverage and annealing of the sample surface with metal atoms leads to the diffusion of the metal atoms into the sample and results in an increase in the crystal doping and decrease in the metallic islands contribution to the measured spectra. As a result, the new electronic structure of the valence band can be created and investigated in situ.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies