Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Micro-Raman Study of $BiFeO_3$ Thin Films Fabricated by Chemical Solution Deposition Using Different Bi/Fe Ratio Precursors

Tytuł:
Micro-Raman Study of $BiFeO_3$ Thin Films Fabricated by Chemical Solution Deposition Using Different Bi/Fe Ratio Precursors
Autorzy:
Nakamura, T.
Fukumura, H.
Hasuike, N.
Harima, H.
Nakamura, Y.
Kisoda, K.
Nakashima, S.
Okuyama, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1807821.pdf
Data publikacji:
2009-07
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
78.30.Hv
63.20.D-
78.30.-j
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2009, 116, 1; 72-74
0587-4246
1898-794X
Język:
angielski
Prawa:
Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
$BiFeO_3$ thin films were grown by chemical solution deposition using precursors with different elemental ratios, Bi/Fe = 1.1/1.0, 1.0/1.0 and 1.0/1.1. All the samples consisted of two easily distinguishable components of crystalline and amorphous phases. We have found that the electric properties of $BiFeO_3$ thin films are closely connected to the crystallinity of the films.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies