In this study, a polarization selective beam splitter constructed by only a single layer subwavelength multisubpart profile grating is presented. Rigorous coupled-wave analysis is adopted to investigate the properties of the structure. It is shown that for a transverse electric polarized wave, the device demonstrates very high reflectivity (>97%) from 1.46 to 1.58 μm; and for a transverse magnetic polarized wave, at the wavelength of 1.55 μm, it exhibits about 50/50 beam ratio under normal incidence. To evaluate the response of the polarizing beam splitters under variation in structure parameters, we also investigated the fabrication tolerances of the device.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00