Visibility and simple optical diagnostics possibilities of graphene layers on dielectric and semiconductor substrates at the Brewster angle are analyzed. The analysis is based on a numerical simulation. Several oxide semiconductors (ITO, ZnO, TiO2), weakly absorbing Si, and strongly absorbing GaAs are considered. It is shown that at the Brewster angle the optical contrast of graphene flakes on a bare semiconductor substrate is actually strong enough to see them under an optical microscope and there is really no need to create an additional interference film on the substrate.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00