Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Problemy wytwarzania i testowania kondensatorów z folii metalizowanej

Tytuł:
Problemy wytwarzania i testowania kondensatorów z folii metalizowanej
Problems of foil-based capacitor fabrication and testing
Autorzy:
Jóźwiak, K.
Smulko, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/156855.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
jakość
kondensatory
wyładowania niezupełne
quality
capacitors
partial discharges
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2009, R. 55, nr 5, 5; 305-307
0032-4140
Język:
polski
Prawa:
CC BY: Creative Commons Uznanie autorstwa 3.0 Unported
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
Kondensatory są powszechnie stosowanymi elementami biernymi w układach i urządzeniach elektronicznych, elektrotechnicznych oraz energetycznych. Stąd, istotnym jest, aby koszty produkcji były możliwie jak najniższe równocześnie przy zachowaniu ich wysokiej niezawodności. W pracy przedstawiono problemy napotykane podczas wytwarzania oraz testowania kondensatorów produkowanych na bazie folii polipropylenowych metalizowanych. Szczegółowo opisano zjawiska zachodzące w produkowanych kondensatorach, aby wskazać na potencjalne przyczyny powstawania ich wad, prowadzących do ewentualnych uszkodzeń.

Capacitors are ubiquitous passive elements in electronics, electrotechnics and energetics. Therefore, it is important to reduce their fabrication costs while maintaining their high quality. This paper presents problems experienced during production of the foil-based capacitors. The detailed description of various phenomena in the capacitor structures are presented to point at reasons of their possible damage. The equivalent circuits of the capacitor are presented and their elements are applied to determine the capacitor quality. The main reasons of the capacitor failure result from poor quality contacts between the wound foils and the metalized layer, too low dielectric resistance isolation or voids within the capacitor structure. It has to be underlined that monitoring changes of capacitance and dielectric loss after long-term excessive charging and discharging at elevated temperature do not exclude all the samples that would collapse. Therefore, it is suggested to monitor partial discharges phenomena that would give more information about voids within the wound foils. The authors suppose that these voids can plausibly lead to the capacitor damage.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies