Weryfikacja parametrów wzorców promieniowania podczerwonego

Wzorce promieniowania podczerwonego mają szerokie zastosowanie w systemach optoelektronicznych. Jednym z takich zastosowań jest korekcja parametrów matryc detektorów. Do korekcji parametrów matryc detektorów używa się wzorców powierzchniowych. Muszą się one charakteryzować parametrami temperaturowymi znacznie lepszymi od parametrów mierzonej matrycy. W artykule przedstawiono metodykę pomiaru oraz wyniki badań wzorców promieniowania wykorzystywanych w stanowiskach pomiarowych do wyznaczania współczynników korekcji parametrów matryc detektorów.

Low temperature blackbodies are widely used in optoelectronics systems as standard IR sources. They are applied in all measurement and calibration systems for IR devices. Nowadays the calibration blackbodies must meet very strict requirements because the spatial and spectral resolution of modern thermal cameras have been significantly improved. Especially, very accurate black bodies are needed to calculate the offsets and the gain FPA. In this paper the requirements for a blackbody used for calculating the FPA coefficient as well as the methods for measuring their important parameters are given The paper describes the measurement methods and presents the measurement results. It consist of 5 sections. In Section 1 the basic knowledge on problems concerning FPA calibration is given. In Section 2 there is described the method for measuring the black body accuracy with use of a very accurate thermometer. Section 3 focuses on measuring the short and long stability with use of thermal cameras. Section 4 deals with measurements of the black body uniformity. Measurements of the emissivity with use of a spectroradiometer are presented in Section 5. The measurement results of the black body manufactured by the Institute of Optoelectronics, Military Academy of Technology are collected in Table 4.