We characterized optical and photoelectrical properties of undoped and Ga-doped ZnO layers differently grown on sapphire substrates by using complementary optical methods. Different stimulated emission threshold values for ZnO epitaxial layers grown by pulsed laser deposition and MBE methods were attributed to crystalline quality of the layers and the growth method used. Different carrier lifetimes in various ZnO epitaxial layers are explained by defect-related and intrinsic mechanisms of recombination.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00