Changes in the optical characteristics in synthetic sapphire specimens produced by microsecond pulse irradiation with a stream of hydrogen ions of energies ranging up to tens keV have been observed. Data on decrease in the optical reflection, measured within the wavelength range of 200 900 nm, are presented. This characterization is compared with the data received by optical and atomic force microscopy as well as by lattice structure analysis performed with X-rays. The measurements indicate that the changes of optical parameters are not a consequence of absorption increase and/or sapphire decomposition. They result from modifications of the morphology and structure of surface layer of the sapphire samples, induced by irradiation.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00