Problemy w opracowaniu wywiadów daktyloskopijnych NN zwłok z odwzorowaniami linii papilarnych zabezpieczonymi w masie silikonowej i próba ich rozwiązania

W artykule opisano doświadczenia przeprowadzone w Automatycznym Systemie Identyfikacji Daktyloskopijnej (AFIS), które wykazały, że zastępując standardowo stosowane przeszukanie typu TP/TP (karta/karta) przeszukaniem typu LT/TP (ślad/karta) przy opracowywaniu wywiadów daktyloskopijnych z odwzorowaniami linii papilarnych utrwalonymi w masie silikonowej, otrzymuje się optymalne wyniki. Dodatkowo zawarto szereg praktycznych wskazówek dla osób opracowujących tego rodzaju wywiady, z jakich narzędzi AFIS należy korzystać, aby uzyskiwać prawidłowe wyniki przeszukania w systemie i minimalizować ryzyko wystąpienia błędów.

The article describes experiments conducted using the Automatic Fingerprint Identification System (AFIS), which demonstrated that replacing the standard search type TP/TP (card/card) with the type LT/TP (tracę/ card) in conducting dactyloscopic investigations with fingerprint patterns preserved in silicone molds leads to optimal results. Moreover, a series of practical tips for investigators are included, covering the AFIS tools that should be used to obtain correct search results in the system and minimize the risk of errors.