We examine transport through a spin-1/2 Kondo impurity, patterned between atomic scale electrodes in the presence of side-coupled nanographene flake. Impurity is attached to the edge of the flake, what allows to test the edge states. The Kotliar Ruckenstein slave boson approach is adopted to describe the strongly correlated impurity. We show that transport measurement of Fano-Kondo effect can serve as a spectroscopic probe of spin resolved graphene flake energy levels. The edge moments can be completely suppressed by gate voltage.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00