A new method for calculation of high-temperature capacitors thermal resistance

In this paper, issues related to the self-heating phenomenon in high-temperature capacitors are described. Measurements of capacitance and parasitic resistance, as a function of frequency and ambient temperature of considered capacitors are presented. Novel procedures for calculation of internal temperature changes are proposed and a novel method for acquiring thermal resistance values is developed and its numerical error is estimated.

W niniejszej pracy, opisano zagadnienia związane ze zjawiskiem samonagrzewania w kondensatorach wysokotemperaturowych. Przedstawiono wyniki pomiarów pojemności i oporności pasożytniczej wybranych kondensatorów w funkcji częstotliwości i temperatury otoczenia. Zaproponowano nową metodę obliczania zmian temperatury wewnątrz elementu oraz wyznaczania jego rezystancji termicznej. Oszacowano błędy numeryczne proponowanej metody.