Low-cost IR system for thermal characterization of electronic devices

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Low-cost IR system for thermal characterization of electronic devices
Autorzy:: Kopeć, M.
Więcek, B.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/114060.pdf
Data publikacji:: 2018
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:: thermal impedance
Foster network
thermal time constants
temperature measurement
Źródło:: Measurement Automation Monitoring; 2018, 64, 4; 103-107
2450-2855
Język:: angielski
Prawa:: CC BY: Creative Commons Uznanie autorstwa 3.0 PL
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki
: Artykuł

Przejdź do źródła

In this article, a Low-cost measurement Infra-Red (IR) system for dynamic thermal testing of electronic devices is described. The element is powered by a step-function current and simultaneously temperature is measured by a fast single-detector IR head. The thermal impedance Zth(jω) is calculated using the Laplace transform and the Foster network is to get thermal time constants distribution.

Informacja

Powiązane pozycje