W artykule przedstawiono fotogrametryczny sposób opracowania obrazów elektronowych mikroskopów (REM). Opisana metoda może być z powodzeniem zastosowana w wielu dziedzinach nauki i techniki, wymagających dokładnych liczbowych danych o mikropowierzchniach analizowanych elementów. Podano wzory wyrażające zależności pomiędzy współrzędnymi przestrzennymi powierzchni i tłowymi dla podstawowych przypadków wykonania zdjęć, a również zestawiono otrzymane dokładności w zależności od zakresu powiększenia obrazów REM.
The paper presents photogrammetrical way of working up images from electronic microscopes (REM). The method described here can be applied with success in many fields of tcchniqe and science requiring precise numerical data of elements’ microsurfaces. The formulae shown in the paper concern the dependence between surface 3D coordinates and image coordinates for basic cases of images. At the end there is a short list o f accuracies in dependence of blowup scale of REM-images.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00