Manganese sulphide (MnS) thin films were prepared by chemical bath deposition method. X-ray diffraction analysis was used to study the structure and the crystallite size of MnS thin films. The grain size and the surface morphology were studied using scanning electron microscopy. The optical properties were studied using the UV-visible absorption spectrum. The dielectric properties of MnS thin films were studied for different frequencies and different temperatures. Further, electronic properties, such as valence electron plasma energy, average energy gap or the Penn gap, the Fermi energy and electronic polarizability of the MnS thin films were calculated. The ac electrical conductivity study revealed that the conduction depended both on the frequency and the temperature. The temperature dependent conductivity study confirmed the semiconducting nature of the films.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00