In this paper a test method based on the wavelet transformation of the measured signal, be it supply current (Ips) or output voltage (Vout) waveform, is presented. In the wavelet analysis, a Mahalanobis distance test metric is introduced utilizing information from the wavelet energies of the first decomposition level of the measured signal. The tolerance limit for the good circuit is set by statistical processing data obtained from the fault-free circuit. Simulation comparative results on benchmark circuits for testing both hard faults and parametric faults are presented showing the effectiveness of the proposed testing scheme.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00