GaN epilayers and AlGaN/GaN multiple quantum wells grown by metalorganic chemical vapor deposition on different crystal planes (c, a, and r) of the sapphire substrate were studied by excitation intensity dependent and time-resolved photoluminescence. In polar multiple quantum wells grown on a- and c-planes, a blueshift of the luminescence band with increasing the excitation energy was observed, indicating that screening of built-in field by free carriers takes place, whereas in nonpolar r-plane grown multiple quantum wells, the luminescence band maintained an almost constant peak position. Full screening of built-in field was achieved at the excitation densities higher than 0.3 mJ/cm$\text{}^{2}$. Under conditions of screened built-in electric field the structures were characterized by carrier lifetime. It was shown that nonpolar multiple quantum wells suffer from high density of nonradiative traps that can be due to substrate related threading dislocations.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00