ZnO films doped with the cadmium (0.4-0.6%) were grown on crystalline sapphire $c-Al_2O_3$ substrates applying radiofrequency magnetron sputtering at the temperature of 400°C in $Ar-O_2$ atmosphere. The as-grown films were investigated in detail using X-ray diffraction, X-ray photoelectron spectroscopy, and cathodoluminescence spectra. The X-ray diffraction analysis revealed that the films possess a hexagonal wurtzite-type structure with the dominant crystallite orientation along the c axis. It was found that the small concentration of the cadmium significantly enhances the ultraviolet emission associated with excitonic transitions. We suggest that this enhancement effect mainly results from appearance of the cadmium isoelectronic traps, which may bind an exciton, thereby increasing the probability of radiation recombination. The effect of Cd isoelectronic impurity on structural and luminescent properties of ZnO films is discussed.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00