An approach to structural characterization of chalcogenide glasses based on the study of void distribution is discussed. The results of positron annihilation lifetime spectra measurements for glassy-like g-As$\text{}_{2}$Se$\text{}_{3}$ are compared with nano-void distribution data obtained from Monte Carlo simulation. In this consideration perspectives to involve the parameters of nano-voids calculated from the first sharp diffraction peak in the framework of known Elliott's model are analyzed.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00