Modelowanie i badania symulacyjne elektronicznych przetworników pomiarowych za pomocą uniwersalnych programów analizy układów elektronicznych

Uniwersalne programy do symulacji układów elektronicznych mogą być z powodzeniem stosowane również do badań symulacyjnych własności metrologicznych elektronicznych przetworników pomiarowych. Do takich badań szczególnie przydatne są pewne dodatkowe opcje analiz dostepne w takich programach. W niniejszym artykule omówiono zarówno podstawowe jak i dodatkowe opcje analiz popularnych programów w aspekcie ich wykorzystywania do symulacji i optymalizacji różnych struktur elektronicznych przetworników pomiarowych oraz analizy ich własności metrologicznych. Programy te wykorzystywane są w Zakładzie Metrologii AGH zarówno w badaniach naukowych jak i w dydaktyce.

Universal programs for computer analysis of electronic circuits can be successfully employed also for metrological analysis of electronic measuring transducers. For such analysis certain additional options of CAA programs are particulary useful. In this paper the basic and additional options of popular CAA programs are discused in context of using them for simulation and optimisation of diferent structures of measuring transducers and analysis of their metrological properties.